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XRF荧光光谱分析仪

简要描述:XRF荧光光谱分析仪可对各种矿石进行多元素分析,广泛应用于矿业、地质、土壤环境、底泥、沉积物中的有色金属元素的快速分析测定,还应用于矿渣精炼分析及考古研究。

  • 产品型号:XRF-SK1
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-08-19
  • 访  问  量:27

详细介绍

品牌霍尔德•电子应用领域化工,钢铁/金属,汽车及零部件

产品简介:

XRF荧光光谱分析仪非常坚固耐用,可以在极为恶劣的环境中完成分析要求高的应用。可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。通过现场测试的成熟的X射线管分析系统,无辐射性同位素,现场分析时能做出快速而全面的矿石类型研究,对样品要求低,但是测试结果准确,能准确分析高浓度样品,避免了验证性的实验室测试。可对各种矿石进行多元素分析,广泛应用于矿业、地质、土壤环境、底泥、沉积物中的有色金属元素的快速分析测定,还应用于矿渣精炼分析及考古研究。包括金矿、银矿、铜矿、铁矿、锡矿、锌矿、镍矿、钼矿、铱矿、砷矿、铅矿、钛矿、锑矿、锰矿、钒矿、碘矿、硫矿、钾矿、磷矿、铀矿等从磷到铀的所有自然矿石、矿渣、岩石、泥土、泥浆。被检测的样品可以是固体、液体、粉尘、粉末、实心体、碎片、过滤物质、薄膜层等有形物体。

XRF荧光光谱分析仪的技术参数:

1、检测元素:可用于矿石、土壤环境中金属元素,Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。

2、探测器:美国Moxtek Si-pin(6 mm2)、美国Amptek Si-pin(25 mm2)、德国KETEK SDD探测器 ;

3、激发源:大功率微型直板X射线管,W靶材,4W大功率X射线管,管电压50KV,管电流最大可达100μA;

4、采用KMX技术,更高X射线计数率,超低电子噪声设计。每次测试前,不需要外部标样,自动能量校准核查;

5、滤光片:配置8个滤光片,可根据测试元素自动切换;

6、测试方法:基本参数法,支持经验系数法修正;

7、点触或扣动扳机控制测试开始,测试过程无需长扣扳机。根据客户需求,也可以一直按着扳机测试样品。

8、操作系统:Window CE 6.0操作系统,安全、放心;

9、自诊断功能:仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断,并会生成日志,便于快速排查出故障;

10、标配模式:矿石模式;选配模式:合金分析模式、土壤分析模式;

参数详细信息
主要配置1 矿石分析仪主机1套;2 标准样品1个;3 原装可充电锂电池2块;4 充电座及电源线;5 U盘(32G)1个;6 加强型聚丙烯膜5片;7 标准手提防潮防震箱一只。
标配模式矿石模式;选配模式:合金分析模式、土壤分析模式
自诊断功能仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断,并会生成日志,便于快速排查出故障
操作系统Window CE 6.0操作系统,安全、放心
测试方法基本参数法,支持经验系数法修正点触或扣动扳机控制测试开始,测试过程无需长扣扳机。根据客户需求,也可以一直按着扳机测试样品。
滤光片配置8个滤光片,可根据测试元素自动切换;
激发源大功率微型直板X射线管,W靶材,4W大功率X射线管,管电压50KV,电流最大可达100 μA;采用KMX技术,更高X射线计数率,超低电子噪声设计。每次测试前,不需要外部标样,自动能量校准核查;
探测器美国Moxtek Si-pin(6 mm2),美国Amptek Si-pin(25 mm2),德国KETEK SDD探测器
检测元素可用于矿石、土壤环境中金属元素,Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。(红色为SDD探测器配置)

XRF荧光光谱分析仪



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