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反射式光学膜厚仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜，测量误差小于1纳米，最快每秒可测100次，重复测量精度高达0.05纳米。广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，宽光谱覆盖，采用氘卤组合光源，光谱覆盖紫外至近红外，可解析单层/多层膜厚。
非接触式膜厚测量仪广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，最高采样速度100Hz，适配产线快速检测，提升测量效率，宽光谱覆盖，采用氘卤组合光源，光谱覆盖紫外至近红外，可解析单层/多层膜厚。
光学膜厚仪广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，能满足从晶圆镀膜、显示面板薄膜到光学元件镀膜、医用植入物涂层、汽车玻璃膜层及新能源薄膜的高精度厚度检测需求，支持20nm超薄膜厚检测，准确度±1nm、重复精度0.05nm，满足精密检测需求。
反射膜厚测量仪广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，能满足从晶圆镀膜、显示面板薄膜到光学元件镀膜、医用植入物涂层、汽车玻璃膜层及新能源薄膜的高精度厚度检测需求，助力各行业提升产品质量与研发效率。
反射膜厚仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜，测量误差小于1纳米，最快每秒可测100次，重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合，覆盖紫外到红外全光谱，抗干扰能力强，在振动或复杂环境下也能稳定工作。
全自动表面张力仪是一款用于测定表面张力、界面张力及液体密度的专用检测设备，严格符合多项国家及国际标准要求，可广泛应用于石油产品、表面活性剂、天然胶乳等各类样品的相关指标检测。具体符合标准包括：GB6541-1986《石油产品油对水界面张力测定法》（圆环法）、GB/T22237-2008《表面活性剂 表面张力的测定》、GB18396-2001《天然胶乳 环法测定表面张力》等。
