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固体粉末光学接触角测定仪是测量液体对固体材料接触角的仪器，主要用于表征液体对固体材料表面的润湿性能，通过光学成像获取液滴的图像，利用计算机软件，通过数学模型拟合出液滴图像的轮廓并得到接触角或表面张力，并进行表面能计算和润湿性分析。可广泛应用于材料研究、工业涂层、手机制造、生物医药、电子电路、纺织纤维、石油开采、航空航天等领域。
粉末接触角测量仪是测量液体对固体材料接触角的仪器，主要用于表征液体对固体材料表面的润湿性能，通过光学成像获取液滴的图像，利用计算机软件，通过数学模型拟合出液滴图像的轮廓并得到接触角或表面张力，并进行表面能计算和润湿性分析。
半导体膜厚测试仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜，测量误差小于1纳米，最快每秒可测100次，重复测量精度高达0.05纳米。高灵敏度元器件搭配抗干扰光学系统+多参数反演算法，复杂环境下测量稳定，灵活易适配：支持自定义膜结构测量，设备小巧易安装，配套软件及二次开发包，适配实验室/产线多场景。
反射式光学膜厚仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜，测量误差小于1纳米，最快每秒可测100次，重复测量精度高达0.05纳米。广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，宽光谱覆盖，采用氘卤组合光源，光谱覆盖紫外至近红外，可解析单层/多层膜厚。
非接触式膜厚测量仪广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，最高采样速度100Hz，适配产线快速检测，提升测量效率，宽光谱覆盖，采用氘卤组合光源，光谱覆盖紫外至近红外，可解析单层/多层膜厚。
光学膜厚仪广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，能满足从晶圆镀膜、显示面板薄膜到光学元件镀膜、医用植入物涂层、汽车玻璃膜层及新能源薄膜的高精度厚度检测需求，支持20nm超薄膜厚检测，准确度±1nm、重复精度0.05nm，满足精密检测需求。
