




详细介绍
| 品牌 | 霍尔德•电子 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 化工,能源,电子/电池 |
一、产品简介
粒形粒径分析仪是一款基于静态图像分析技术的颗粒表征仪器。它集成了高精度光学显微镜与800万像素高清相机,能够清晰捕捉从0.5微米至4500微米范围内颗粒的精细形态,并通过智能软件自动分析颗粒的粒径分布及长宽比、圆形度等二十余种形态参数,为材料化工、生物医药、新能源等领域的质量控制和研发创新提供全面、精准的数据支持。
二、粒形粒径分析仪的应用领域
1. 磨料:如碳化硅、刚玉、金刚石、石榴石等。
2. 电池材料:球形石墨粉等。
3. 金属粉:如球形铝粉、铅锡合金粉、其它雾化金属粉。
4. 非金属粉:如玻璃珠、聚苯乙烯等。
5. 针状粉:如硅灰石等。
6. 生物制剂:如细胞。
7. 食品:如牛奶、面粉等。
8. 其他:如科研、教学等。
三、产品特点
1. 高清成像与智能检测
采用进口显微镜与800万像素Sony传感器,配合1.62μm小像元,可精准捕捉颗粒的细微形态;支持手动调节载物台、光源和焦距,操作便捷,确保稳定获取高质量颗粒图像。可精准分析粒径、费雷特径、椭圆率、圆度、长宽比等多种算法参数,实现颗粒形态的全面表征。
2. ★智能化操作与标定
配备辅助对焦功能,支持一键式自动标定后可清晰观察颗粒状态;基于高精度标定片自动完成参数设置,避免人工输入误差,保障测量准确性与重复性。
3. 灵活的测量与采样方式
配备2X、4X、10X、40X四款物镜,覆盖0.5μm~4500μm宽量程测量,其中4X镜头可跨越三个数量级;支持人机交互采样,取样位置自由可选,适应多样品类型与分析需求。
4. 智能图像处理与精准分析
仪器配套软件采用优化的二值化算法与非降噪边缘识别技术,能够自动、精准地识别并分割包括半透明颗粒在内的各类样品轮廓;同时具备粘连颗粒自动识别与排除功能,有效过滤重叠及异常数据点,从源头确保粒度与粒形分析结果的准确性和可靠性。
5. ★强大的数据处理与报告输出
提供内容丰富的专业报告模板,支持中英文双模式,包括标准与简化两种版式,可图文并茂地展示测量结果;报告可涵盖五大类数十种参数及其分布图表与颗粒图像,且表头信息均可自动生成,无需手动填写,并支持按需快速定制不同格式与语言的报告模板,一键导出专业报告。
6. 良好的兼容性与扩展性
相机接口兼容USB 2.0与3.0,适配多种计算平台;软件运行稳定,支持历史数据回溯与再处理,具备良好的系统集成与扩展能力。
7. 专业的气体压力分散系统
可选配专用散料器,确保样品均匀地分散,使颗粒在测量时处于良好的分离状态,以获得准确的测量结果。
四、技术参数
| 组件 | 名称 | 参数 |
| 显微系统 | 外形尺寸 | 198(长)mm× 377(宽)mm×259(高)mm |
| 主机重量 | 约5.2kg | |
| 整机调节 | 整机水平测试/调节 | |
| 载玻片 | 80mm×80mm×1mm | |
| 载物台 | 双层矩形机械载物台,尺寸:155×134mm,配套带刻度的可移动切片夹,行程:76×40mm | |
| 聚焦机构 | 微调聚焦旋钮刻度:2 um/刻度; 微调聚焦旋钮行程:上下 0.2 mm/圈; 粗调聚焦旋钮行程:上下 37.7 mm/圈; 镜台垂直可运动范围:从焦平面 向上2 mm,向下13 mm; | |
| 物镜规格 | 2x、4x、10x、40x | |
| 转换器 | 四孔转换器,带有机械定位 | |
| 光源 | LED | |
| 光学 | CFI无限远校正系统 | |
| 电源 | 100-240V AC/0.75A | |
| 观察技术 | 透射明场观察 | |
| 镜台 | 左右轴:76mm;前后轴:30mm; | |
| 输出功率 | 15.0W | |
| 输出电流 | 3.0A |

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